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              當前位置:首頁產品中心zeta電位儀ELSZ-2000ZETA電位?粒徑?分子量測系統(tǒng)
              ZETA電位?粒徑?分子量測系統(tǒng)

              產品簡介

              ZETA電位?粒徑?分子量測系統(tǒng)此設備可測量濃度低的溶液~濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。
              粒徑測量范圍(0.6nm~10μm),濃度范圍(0.00001%~40%)。實測電氣滲透流,高精度的ZETA電位測量,小容量是130μL~的一次性cell。
              另,在0~90℃的大的溫度范圍內,測量自動溫度的梯度空間,分析変性?相轉移溫度

              產品型號:ELSZ-2000
              更新時間:2025-06-27
              廠商性質:生產廠家
              訪問量:7629
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              產品信息

              特點

              使用了新型高感度APD,感度提升及縮短測量時間
              通過測量自動溫度梯度空間,可分析出変性?相轉移溫度
              可測量0~90℃大范圍內的溫度
              追加了大范圍的分子量測量及解析功能
              懸濁類高濃度樣品的粒徑?ZETA電位的測量
              實測cell內的電氣滲透流,解析plot,提供高精度的ZETA 電位測量結果
              高鹽濃度溶液的ZETA電位測量
              小面積樣品的平板ZETA電位測量

              用途

              適用于界面化學、無機物、半導體、高分子、生物、藥學、醫(yī)學領域中,除了微粒子外,膜及平板狀樣品的表面科學的基礎研究、應用研究。
              新功能性材料領域

              燃料電池相關(碳納米軟管、富勒烯、功能性膜、觸媒、納米金屬)
              生物納米相關(納米膠囊、人造分子、DDS、生物納米粒子)、納米氣泡等

              陶瓷?色材工業(yè)領域

              陶瓷(二氧化硅?氧化鋁?氧化鈦等)
              無極膠體溶液的表面改質?分散?凝集控制
              顏料(炭黑?有機顏料)的分散?凝集控制
              懸濁狀樣品
              彩色膜
              浮遊選礦物的捕集材吸著的研究

               

              半導體領域

              查明附著在硅體晶圓的異物的結構
              研磨剤或添加剤和晶圓表面的相互作用的研究
              CMP懸濁液

              高分子?化學工業(yè)領域

              Emulsion(塗料?膠水)的分散?凝集控制、乳膠的表面改質(醫(yī)藥 用?工業(yè) 用)
              高分子電解質(聚乙烯磺酸鹽?聚碳酸等)功能性的研究、功能性納米粒子
              紙?紙漿的制紙工程控制及紙漿添加材料的研究

              醫(yī)藥 品?食品工業(yè) 領域

              Emulsion(食品?香料?醫(yī)療?化妝品)的分散?凝集控制、蛋白質的功能性
              脂質體?囊泡的分散?凝集控制、界面活性剤(膠粒)的功能性

               

              原理

              粒徑測量原理:動態(tài)光散射法(光子相關法)
              溶液中的粒子會呈現(xiàn)出 依賴于粒徑的布朗運動。因此,當光照射到此粒子上而得到的散射光會出現(xiàn)浮動,小粒子浮動速度快,大粒子浮動速度慢。
              通過光子相關法解析這種浮動,從而求出粒徑或粒度分布。

               

              ZETA電位測量原理:電氣泳動光散射法(激光多普勒法)
              對溶液中的粒子施加電場,便可觀測到粒子所帶電荷的電氣泳動。因此,可從此電氣泳動速度中求出ZETA電位?電氣泳動移動度。
              電氣泳動光散射法,是用光照射做電氣泳動的粒子,根據(jù)所得到的散射光的多普勒轉換量求電氣泳動度。因此,也被稱作激光多普勒法。

              電氣浸透流實測的優(yōu)點
              所謂電氣浸透流指的是ZETA電位測量中,在cell內引起的溶液的流動的現(xiàn)象。如果cell壁面帶電,溶液中的對離子會集中到cell壁面。
              如果帶有電場,對離子會集中到反向符號的電極側。為了填補其流動,在cell中央附近區(qū)域會出現(xiàn)逆流現(xiàn)象。
              實測粒子表面的電氣泳動移動速度,通過解析電氣浸透流,求出正確的靜止面,當然此靜止面已包括了樣品的吸附或沈降等的cell污跡的影響,然后求出真正的ZETA電位?電氣泳動移動度。 (參考森?岡本公式)

               

              森?岡本公式
              考慮了電氣浸透流的cell內的泳動速度的解析

              Uobs(z)=AU0(z/b)2+⊿U0(z/b)+(1-A)U0+Up
              z:距離cell中心位置的距離
              Uobs(z):在cell中的位置z中的表面的移動度
              A=1/[(2/3)-(0.420166/k)]
              k=a/b:2a和2b是電氣泳動cell斷面的橫、縱的長度.但是、a>b
              Up:粒子的真正的移動度
              U0:在cell的上下壁面中的平均移動度
              ⊿U0:在cell的上下壁面中的移動度的差

               

              電氣浸透流的多成分解析的應用
              因ELSZ serie實測了cell內的多個點的表面的電氣泳動移動度,在測量數(shù)據(jù)內可確認出ZETA電位分布的在現(xiàn)性及判斷噪音峰值。


              平板cell的應用
              平板cell指的是在箱狀的石英cell上面,密集的放置平板樣品,使之成一體化的構造。 根據(jù)cell的深度方向的各個級別,實測monitor粒子表面的電氣泳動移動度
              根據(jù)得到的的電氣浸透profile解析在固體界面中的電氣浸透流的速度,進而求出平板樣品表面的ZETA電位。

              高濃度類樣品的ZETA電位測量原理
              因受多重散射或吸收等的影響,用ELSZ series是很難測量光難以透過的濃厚樣品或有色樣品的。
              現(xiàn)在,ELSZseries的標準cell可對應低濃度類到高濃度類的大范圍的樣品測量。并且,通過采用了FST法*的高濃度類cell,可測量出高濃度樣品的ZETA電位。


              分子量測量原理:靜的光散射法(光子相關法)
              靜的光散射法作為簡便的測量/絕/對分子量的手法而被人們熟知。
              測量原理指的是用光照射溶液中分子,根據(jù)所得的散射光的/絕/對值求出分子量。即,利用了大分子所得散射光強,小分子所得散射光弱的現(xiàn)象進行測量。
              實際上,濃度不同,所得的散射光強度也不同。因此,要實測數(shù)點的不同濃度的溶液散射強度,并根據(jù)以下公式,橫軸設為濃度,縱軸設為散射強度的倒數(shù), 
              Kc/R(θ)為plot。這被稱作Debye plot。
              濃度為零,外插切片(c=0)的倒數(shù),并求出分子量Mw,根據(jù)初期斜面求出第二維里系數(shù)A2。
              分子量為大分子時,散射強度出現(xiàn)角度依存性,通過測量不同的散射角度(θ)的散射強度,可知出分子量的測量精度提高,及分子大范圍的指標的慣性半徑。
              角度固定測量時,輸入推算的慣性半徑,并對角度依存測量進行相應的補正,便可提高分子量的測量精度。

              第二維里系數(shù)定義
              表示溶媒中分子間的斥力和引力的相互作用,溶媒分子相對應的親和性或結晶化的標準。
              A2是正時,則是親和性較高的高質溶媒,分子間的斥力強,更穩(wěn)定。
              A2是負時,則是親和性較低的低質溶媒,分子間的引力強,易凝集。
              A2=0時,溶媒被稱為西他溶媒、或溫度為西他溫度,斥力和引力達到平衡狀態(tài),易結晶。

               

              式樣

              ELSZ-2000Z
              測量原理 雷射都卜勒法(Laser Doppler)
              光源 高功率、高穩(wěn)定性半導體鐳射
              感光元件 高感度APD
              樣品容器 標準樣品容器、微量(130μl~)可拋式樣品容器或高濃度樣品容器
              溫度范圍 0 ~ 90℃ (具備梯度功能)
              電源規(guī)格 100V ± 10% 250VA,50 / 60 Hz
              尺寸 380(W) × 600(D) × 210(H)mm
              重量 約22kg

               

              測量范例

              印表機墨水界達電位測量

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              使用平板樣品容器的測量范例

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              微量可拋式樣品容器的測量范例

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              隱形眼鏡平板電位解析

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              毛髮樣品界達電位解析

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              選配附件

              pH滴定儀系統(tǒng)(ELSZ-PT)• 平板樣品容器
              •界達電位用中、高濃度樣品容器•界達電位用低介電常數(shù)樣品容器
              •界達電位用微量可拋式樣品容器

              ZETA電位?粒徑?分子量測系統(tǒng) ZETA電位?粒徑?分子量測系統(tǒng)

                 微電泳是一種常用的測量膠體粒子Zeta電位(ζ電位)的技術,通過電場驅動膠體粒子在溶液中運動,并測量其電泳遷移速度和方向,從而計算出其ζ電位。微電泳儀是一種專用儀器,能夠精確地控制電場強度、時間以及測量膠體粒子的電泳遷移速度和方向。
                測量膠體的Zeta電位需要經過以下幾個步驟:
                準備樣品:將待測膠體樣品加入適量的電解質中,使膠體溶液濃度在0.01%-5%之間。樣品中電解質的濃度應控制在膠體的表面電勢不發(fā)生改變的范圍內。
                樣品預處理:為了避免粒子聚集和沉積,需要對樣品進行超聲或者攪拌等處理,使得顆粒分散均勻。
                微電泳測量:將樣品注入微電泳儀的電泳池中,設定好電場強度和時間。通過激光光源照射樣品中的顆粒,利用相機記錄膠體顆粒運動軌跡,從而得到電泳遷移速度和方向。微電泳儀利用Stokes-Einstein方程計算出顆粒大小并按照Smoluchowski理論計算ζ電位。
                數(shù)據(jù)處理:將電泳曲線與模型數(shù)據(jù)進行比對,檢驗實驗結果的可信度。對于可能存在聚集和多分散性問題的樣品,可以進行多噴射平均測量方法(M3P)來提高測量準確性。
                總之,微電泳儀是一種測量膠體的Zeta電位的重要工具,通過測量膠體粒子在電場中的電泳遷移速度和方向來計算其ζ電位。這一技術在材料科學、化學、醫(yī)學等領域有著廣泛應用。

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